전북대학교 배학열 교수(전자공학부), 서울시립대 김태완 교수(첨단융합학부)로 이뤄진 공동 연구팀이 차세대 항공우주 분야 반도체의 손상 원인을 정밀하게 찾을 수 있는 분석법을 개발했다. 연구팀은 차세대 메모리에 적용